河南崇勝儀器設備有限公司
詳細摘要： 橢圓偏振光譜儀橢圓偏振光譜儀是一種無損無接觸的光學測量技術(shù)，基于線偏振光經(jīng)過薄膜樣品反射后偏振狀態(tài)的改變(強度和相位)，通過模型擬合后獲得各層厚度以及光學常數(shù)（...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-22 在線留言
詳細摘要： X射線熒光光譜儀 基于大量客戶的要求，HORIBA憑借長期的經(jīng)驗開發(fā)出全新的EDXRF分析裝置MESA-50
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
詳細摘要： ICP等離子體發(fā)射光譜儀 電感耦合等離子體發(fā)射光譜儀（ICP-OES）可對各種類型樣品進行元素分析
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
詳細摘要： 熒光光譜儀是研究分子躍遷能級及分子間相互作用的常規(guī)手段，熒光光譜儀用于功能性/半導體型納米材料、稀土摻雜材料、有機電子發(fā)光器件、熒光有機探針、有機污染物以及生物...
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
詳細摘要： 真空紫外光譜儀 HORIBA提供1-00nm真空紫外光譜儀和相關附件，以光柵制造能力為支撐，非球光學設計為優(yōu)勢，低能量損失和高光通量為技術(shù)特色
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2023-04-21 在線留言
詳細摘要： 等離子體分析飛行時間質(zhì)譜儀PP-TOFMS用于多鍍層固體材料中所有元素及同位素的深度剖析
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-11-08 在線留言
詳細摘要： 射頻輝光放電光譜儀GD-OES射頻輝光放電光譜儀可以檢測導體、非導體、半導體薄/厚膜中70多種元素隨鍍層結(jié)構(gòu)和深度的變化
產(chǎn)品型號：所在地：更新時間：2022-10-06 在線留言您感興趣的產(chǎn)品PRODUCTS YOU ARE INTERESTED IN
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